Новостная лента-ZEPTOOLS- это научно‑инструментальная фирма

Новости и информация

2023

Структура и принцип работы сканирующего электронного микроскопа

Сканирующий электронный микроскоп — это крупногабаритный прибор, предназначенный для исследования морфологии поверхности образца. Когда пучок падающих электронов определённой энергии бомбардирует поверхность образца, электроны вступают в одно‑ или многократные упругие и неупругие столкновения с ядрами атомов и внешними электронами. Часть электронов отражается от поверхности образца, тогда как остальные проникают в него, постепенно теряя кинетическую энергию и, наконец, останавливаясь и поглощаясь материалом.

2023

Принцип работы настольного сканирующего электронного микроскопа

В 1960‑е годы был создан сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope), который использует пучок высокоэнергетических электронов для сканирования образца и получения изображения. Взаимодействие электронов с атомами, составляющими образец, позволяет генерировать сигналы, содержащие информацию о рельефе поверхности, химическом составе и других характеристиках образца.

2023

Как избежать явления «термических артефактов» на поверхности образца в сканирующем электронном микроскопе

Явление «теплового артефакта» на поверхности образца в сканирующем электронном микроскопе обычно обусловлено высокой энергией электронного пучка. Это явление может приводить к локальному нагреву образца, что влияет на качество изображения и результаты анализа.

2023

Режим удержания электронного пучка в сканирующем электронном микроскопе

Режим удержания электронного пучка в сканирующем электронном микроскопе, обычно именуемый режимом удержания (или режимом управления удержанием), представляет собой рабочий режим, позволяющий регулировать движение электронного пучка для удовлетворения различных требований к получению изображений и проведению анализа.

2023

Как оптимизировать параметр соотношения сигнал–шум (SNR) в сканирующем электронном микроскопе?

В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) оптимизация соотношения сигнал–шум (SNR) играет ключевую роль для получения высококачественных изображений и надёжного анализа данных.

2023

< 1...65 66 67...77 >

Свяжитесь с нами

tel +86-400-966-2800

Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15

Консультации онлайн +

Лицензия на ведение деятельности

COOKIES

Наш веб-сайт использует файлы cookie и аналогичные технологии, чтобы персонализировать показываемую вам рекламу и помочь вам получить максимальное удовольствие от посещения нашего веб-сайта. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашей Политикой конфиденциальности и использования файлов cookie.

COOKIES

необходимый

Эти файлы cookie необходимы для основных функций, таких как оплата. Стандартные файлы cookie невозможно отключить, и они не сохраняют никакой вашей информации.

анализировать

Эти файлы cookie собирают информацию, например о том, сколько людей используют наш сайт или какие страницы популярны, чтобы помочь нам улучшить качество обслуживания клиентов. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем собирать информацию для улучшения вашего опыта.

Особенность

Эти файлы cookie позволяют веб-сайту обеспечивать расширенную функциональность и персонализацию. Они могут быть установлены нами или сторонними поставщиками, чьи услуги мы добавили на наши страницы. Если вы не разрешите использование этих файлов cookie, некоторые или все эти службы могут работать некорректно.

рекламировать

Эти файлы cookie помогают нам понять, что вас интересует, чтобы мы могли показывать вам релевантную рекламу на других веб-сайтах. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем показывать вам персонализированную рекламу.