Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Влияние размеров и формы образца на параметры сканирующей электронной микроскопии
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) размеры и форма образца оказывают существенное влияние на параметры настройки и качество изображения.
01
2023
/
11
Как в сканирующем электронном микроскопе осуществляется изображение с помощью электронного обратного рассеяния (BSE)
Электронная ретроспективная рассеяние (BSE) — это метод получения изображений при сканирующей электронной микроскопии (SEM), который использует обратнорассеянные электроны, исходящие с поверхности образца, для формирования изображений с высоким контрастом.
Технология электропроводящего покрытия для образцов в сканирующем электронном микроскопе
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) нанесение проводящего покрытия на образец является распространённой методикой, особенно при работе с изоляционными или непроводящими образцами; это повышает электропроводность пучка электронов, уменьшает эффект зарядки и, таким образом, обеспечивает более высокое качество изображения.
31
10
Совместное обсуждение будущего отечественных электронных микроскопов ┃ Компания «ZEPTOOLS» представила свои разработки на Всекитайской научной конференции по электронной микроскопии 2023 года
С 26 по 30 октября в городе Дунгуань с большим успехом прошла Всекитайская научная конференция по электронной микроскопии 2023 года. Темой нынешнего форума стало «Микроскопия — стремление к высоким горизонтам, мир — бескрайнее небо», приуроченная к 100‑летию со дня рождения выдающегося китайского учёного, одного из пионеров отечественной электронной микроскопии, господина Го Кэсиня.
Артефакты изображений, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, и методы псевдоцветной окраски
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) артефакты и методы псевдоцветной окраски обычно применяются для повышения контрастности изображений и улучшения визуализации информации.
Применение сканирующей электронной микроскопии в анализе усталости и разрушения материалов
Сканирующий электронный микроскоп играет ключевую роль в анализе усталости и разрушения материалов.
30