Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Как в сканирующем электронном микроскопе обеспечить высокое разрешение при проведении томографии и выявлении кристаллических дефектов?
Для получения высокого разрешения при проведении томографии и выявления кристаллических дефектов в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) обычно требуется применение определённых методов и приборов.
30
2023
/
10
Какое влияние оказывает расстояние между электронным пучком и образцом в сканирующем электронном микроскопе?
В сканирующем электронном микроскопе расстояние между пучком электронов и образцом является важным параметром, обычно называемым рабочим расстоянием.
27
Какова стоимость сканирующего электронного микроскопа?
Стоимость сканирующего электронного микроскопа зависит от множества факторов, включая модель прибора, бренд, технические характеристики, комплектацию и дополнительные аксессуары.
Как измерять и регулировать увеличение сканирующего электронного микроскопа?
Для измерения и настройки увеличения сканирующего электронного микроскопа вы можете следовать приведённым ниже шагам.
26
Как определяются параметры глубины и шероховатости поверхности в сканирующей электронной микроскопии?
Для определения глубины и параметров шероховатости поверхности, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, обычно необходимо выполнить следующие шаги.
Как настроить систему сканирующего электронного микроскопа для изменения глубины и фокальной плоскости?
Для настройки системы сканирующего электронного микроскопа с целью изменения фокальной плоскости и глубины резкости обычно необходимо учитывать следующие факторы.
25