Центр продуктов
Продукты
Сканирующий туннельный микроскоп
Ключевые слова:
Сканирующий электронный микроскоп ZEM Ultra с полевой эмиссией
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией ZEM Ultra компании Цэюй Технолоджи — настольный СЭМ с сверхвысоким разрешением, превышающим 2,5 нм. В основе — электронная пушка Шоттки и трёхступенчатая вакуумная система; поддерживается увеличение до 1 млн крат, а также анализ с помощью EDS и EBSD. Подходит для исследований наноматериалов, разработки аккумуляторов и контроля полупроводниковых изделий.
Ключевые слова:
Многофункциональный сканирующий электронный микроскоп ZEM30 Pro
ZEM30 Pro — это высокопроизводительный универсальный сканирующий электронный микроскоп. Он впервые использует лампу накала из гексаборида лантана (LaB6), что обеспечивает источник электронного пучка с гораздо большей яркостью по сравнению с традиционными вольфрамовыми нитями, существенно повышая качество изображений и доводя разрешение до 2,5 нм. Это не просто инструмент для наблюдения. ZEM30 Pro оснащён модульной конструкцией колонны прибора; пневматическая система гарантирует поддержание высокого вакуума в оптической системе на протяжении всего времени работы. В сочетании с пятисекционным высокоточным образцетранспортёром и широким набором интерфейсов он легко интегрируется с различными установками для проведения in situ‑экспериментов — растяжения, нагрева, криогенных исследований, электрических измерений и др., превращаясь в универсальную платформу для исследований микро- и наноматериалов.
Ключевые слова:
В области вакуумной электроники стабильные и долговечные сверхбыстрые источники электронов играют ключевую роль для реализации высокоточной временно‑разрешённой визуализации и спектроскопического анализа. Традиционные источники электронов обычно используют в качестве фотокатодов металлы — такие как золото и вольфрам, — либо низкоразмерные материалы, например углеродные нанотрубки, генерируя импульсы электронов за счёт таких механизмов, как многфотонная эмиссия, фотоэлектрический эффект или оптическая полевая эмиссия. Однако эти методы обладают существенными ограничениями. С одной стороны, многфотонная эмиссия и оптическая полевая эмиссия требуют использования сверхмощных лазеров или глубоких ультрафиолетовых импульсов возбуждения, что приводит не только к повреждению материала катода и механическим вибрациям, но и к необходимости поддержания экстремальных вакуумных условий. С другой стороны, существующие источники электронов, как правило, страдают от временной нестабильности тока пучка, требуя перекалибровки каждые 4–6 часов, что серьёзно ограничивает эксплуатационную эффективность оборудования и надёжность получаемых данных.
Ключевые слова:
Заявление ZEPTOOLS в связи с «Новым законом о рекламе»
Заявление ZEPTOOLS в связи с «Новым законом о рекламе»
Ключевые слова:
Новейший продукт
Последние новости
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15