Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Можно ли с помощью BSE‑режима сканирующего электронного микроскопа проводить элементный анализ?
Изображения, полученные с помощью рентгеновского электронного микроскопа (SEM) в режиме обратного рассеяния электронов (BSE), могут использоваться для анализа состава. Обратно рассеянные электроны — это высокоэнергетические электроны, отражённые от образца; их интенсивность зависит от среднего значения атомного номера элементов, входящих в состав образца. В областях с более высоким атомным номером сигнал обратно рассеянных электронов оказывается более выраженным, тогда как в областях с низким атомным номером он слабее. Таким образом, по изображениям BSE можно получить сравнительную информацию о распределении компонентов в образце, однако они не позволяют проводить прямой количественный анализ состава.
19
2024
/
06
Настольный сканирующий электронный микроскоп компании «ZEPTOOLS»: мощный инструмент для исследования микромира
В сфере научных исследований и промышленной диагностики глубокое понимание структуры поверхности материалов играет ключевую роль. Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) компании «ZEPTOOLS» благодаря своим выдающимся эксплуатационным характеристикам и удобству использования предоставляет учёным уникальную возможность заглянуть в микромир. В данной статье подробно рассматриваются особенности настольного сканирующего электронного микроскопа «ZEPTOOLS», его области применения, а также способы максимального раскрытия его потенциала.
Цзэюй КОП — зондовый профилометр: надёжный помощник для точных измерений
В сфере точного машиностроения и производства крайне важны точные измерения размеров и формы деталей. Контурный профилометр с зондом, являясь высокоточным измерительным инструментом, позволяет осуществлять детальное исследование контуров сложных деталей. В данной статье мы подробно рассмотрим принципы работы контурного профилометра с зондом, области его применения, а также способы его правильного использования.
Цзэюй Кепо — ступенчатый измеритель: точный измерительный инструмент в архитектуре и дизайне
В сфере архитектуры и дизайна точные измерения играют ключевую роль в обеспечении успешной реализации проектов. Ступенчатый измеритель — профессиональный измерительный инструмент, который занимает важное место при оценке и проектировании лестниц, ступеней, а также в других ситуациях, требующих точных данных о высоте и глубине. В данной статье подробно рассматриваются принципы работы ступенчатого измерителя, способы его применения и его роль в современных строительных проектах.
Сканирующий электронный микроскоп Zeyou — металлографическая структура печатной платы и локальный спектральный анализ контактов
Знаете ли вы? В повседневных электронных устройствах есть один чрезвычайно важный компонент — печатная плата (PCB, Printed Circuit Board). Она играет роль транспортного узла, соединяя различные электронные компоненты и обеспечивая нормальную работу устройства. Но задумывались ли вы, как гарантировать, что печатная плата соответствует строгим требованиям к качеству, надёжности и эксплуатационным характеристикам?
07
Какие аналитические функции предоставляет рентгеновский микроскоп с электронным сканированием (SEM) и спектрометр EDS?
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) в сочетании с методом энергодисперсионного рентгеновского спектроскопирования (EDS или EDX) позволяет осуществлять разнообразные виды анализа состава.
27
05