Новости и информация

ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ

Лучший выбор для выявления дефектов в полупроводниковых корпусах! Настольные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM компании «ZEPTOOLS» обеспечивают высочайшую ценовую эффективность и способствуют повышению качества отечественных полупроводниковых чипов.

В процессе сборки полупроводниковых приборов дефекты микронного масштаба — такие как поры в металлических межсоединениях или неравномерность оксидного слоя затвора транзистора — могут привести к ухудшению характеристик чипа и даже к сбою всей системы. Традиционные оптические микроскопы, ограниченные разрешением и зонами «слепого» обнаружения, едва способны удовлетворить требованиям нанометровой точности; тогда как импортные высококлассные электронные микроскопы, несмотря на свои выдающиеся характеристики, страдают от крупных габаритов, высокой стоимости и сложности эксплуатации, что особенно делает их малопригодными для быстрого контроля на производственных линиях.

30

2025

/

07

< 1...91011...55 >