Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Что такое безмасочная литографическая установка? Каков её принцип действия?
Безмасочная литографическая установка — это передовое литографическое оборудование, не требующее физических масок; она формирует литографические рисунки динамически с помощью цифрового микрозеркального устройства (DMD), обеспечивая гибкую и высокоэффективную обработку структур на микронном уровне. В основе этого подхода лежит использование пространственной модуляции света, реализованной DMD: компьютерный проект рисунка непосредственно проецируется на поверхность подложки, что исключает такие трудоёмкие этапы традиционной литографии, как изготовление маски и её точное позиционирование, существенно сокращая сроки разработки и снижая производственные затраты.
06
2025
/
08
Что такое ступенчатый измеритель? Каков принцип его работы?
Ступенчатый профилометр — это высокоточный прибор, предназначенный для измерения микроструктуры поверхности материалов с высокой точностью (например, высоты ступеней, шероховатости, плоскостности, искривлённости и др.), широко применяемый в полупроводниковом производстве, научных исследованиях материалов, обработке МЭМС (микроэлектромеханических систем) и контроле оптических компонентов. Его основная функция заключается в том, чтобы посредством тонкого контакта зонда с поверхностью образца получать количественные данные об изменениях высоты поверхности, что служит важной базой для анализа свойств материалов и оптимизации технологических процессов.
Стандартный процесс подготовки поперечного среза катодного материала литиевой батареи и его наблюдения на СЭМ?
Микроструктура материалов катодов литиевых аккумуляторов непосредственно влияет на их энергетическую плотность, циклический ресурс и безопасность. С помощью сканирующей электронной микроскопии (SEM) в режиме поперечного среза можно точно оценить распределение частиц, состояние межфазного взаимодействия и распределение элементов. В данной статье, опираясь на технические преимущества настольных сканирующих электронных микроскопов серии ZEM компании Zeyou Technology, систематически изложены стандартные процедуры подготовки и исследования поперечных срезов материалов катодов литиевых аккумуляторов, что обеспечивает эффективное решение для научных исследований и промышленного контроля.
30
07
Лучший выбор для выявления дефектов в полупроводниковых корпусах! Настольные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM компании «ZEPTOOLS» обеспечивают высочайшую ценовую эффективность и способствуют повышению качества отечественных полупроводниковых чипов.
В процессе сборки полупроводниковых приборов дефекты микронного масштаба — такие как поры в металлических межсоединениях или неравномерность оксидного слоя затвора транзистора — могут привести к ухудшению характеристик чипа и даже к сбою всей системы. Традиционные оптические микроскопы, ограниченные разрешением и зонами «слепого» обнаружения, едва способны удовлетворить требованиям нанометровой точности; тогда как импортные высококлассные электронные микроскопы, несмотря на свои выдающиеся характеристики, страдают от крупных габаритов, высокой стоимости и сложности эксплуатации, что особенно делает их малопригодными для быстрого контроля на производственных линиях.
Какой сканирующий электронный микроскоп наиболее экономичен для выявления дефектов в корпусировании полупроводников?
Столешные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM компании ZeYou Technology, благодаря своему высокому соотношению цены и качества, портативности и возможностям комплексного анализа на всех этапах производства, стали идеальным решением для выявления дефектов в полупроводниковых упаковках.
24
Как в режиме низкого напряжения проводить сканирующую электронную микроскопию непроводящих образцов?
При анализе на сканирующем электронном микроскопе (SEM) некондуктивные образцы — такие как пластик, керамика и биологические ткани — из‑за накопления заряда на поверхности дают размытое изображение. Традиционный режим работы при высоком напряжении требует напыления золотого покрытия, что, однако, маскирует истинную морфологию образца. Стационарные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM компании Zeyou Technology благодаря режиму низкого напряжения и технологии замедления позволяют получать изображения высокого разрешения без напыления золота, предлагая решения для неразрушающего анализа в таких областях, как материаловедение и биомедицина.
23