Новостная лента-ZEPTOOLS- это научно‑инструментальная фирма

Новости и информация

Сканирующий электронный микроскоп — это мощный тип микроскопа, предназначенный главным образом для изучения поверхностной морфологии и микроструктуры образцов. Однако для получения подробной информации о химическом составе поверхности образца обычно требуются дополнительные приборы или методы.

2023

Каковы области применения стержня для образцов в режиме in situ в электронных микроскопах?

Сегодня мы расскажем об основных областях применения стержня для образцов в режиме in situ в электронных микроскопах.

2023

Какова роль стержня для образцов в режиме «in situ» в научных исследованиях?

Стационарный образцовый стержень — важный компонент трансмиссионного электронного микроскопа; его назначение — вводить в камеру микроскопа различные внешние среды, обеспечивая in situ‑характеризацию и обработку образцов.

2023

Применение настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM20 в контроле качества кремниевых пластин и полупроводниковых чипов

По мере стремительного развития полупроводниковой отрасли Китая возрастают требования к характеристике и контролю качества микроструктур кремниевых пластин и чипов. Сканирующий электронный микроскоп ZEM20, разработанный компанией «ZEPTOOLS», благодаря своему выдающемуся разрешению изображения и широкому спектру режимов детектирования сигналов стал идеальным инструментом для анализа микрорельефа и выявления дефектов в полупроводниковой промышленности.

2023

Как расстояние между сканирующим электронным микроскопом и образцом влияет на фокусное расстояние?

Механизм влияния расстояния между сканирующим электронным микроскопом и образцом на фокусное расстояние достаточно сложен. Для его подробного и всестороннего объяснения я излагаю материал с позиций физических принципов, геометрической оптики и факторов, оказывающих влияние; основные положения представлены ниже.

2023

Каким образом получается информация о глубине в сканирующем электронном микроскопе?

Ключевым моментом получения информации о глубине с помощью сканирующего электронного микроскопа является определение трёхмерных пространственных координат каждой точки на поверхности. Основными техническими методами являются метод измерения телесного угла, многоугольная визуализация и технология продольной полевой эмиссии.

2023

< 1...61 62 63...77 >

Свяжитесь с нами

tel +86-400-966-2800

Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15

Консультации онлайн +

Лицензия на ведение деятельности

COOKIES

Наш веб-сайт использует файлы cookie и аналогичные технологии, чтобы персонализировать показываемую вам рекламу и помочь вам получить максимальное удовольствие от посещения нашего веб-сайта. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашей Политикой конфиденциальности и использования файлов cookie.

COOKIES

необходимый

Эти файлы cookie необходимы для основных функций, таких как оплата. Стандартные файлы cookie невозможно отключить, и они не сохраняют никакой вашей информации.

анализировать

Эти файлы cookie собирают информацию, например о том, сколько людей используют наш сайт или какие страницы популярны, чтобы помочь нам улучшить качество обслуживания клиентов. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем собирать информацию для улучшения вашего опыта.

Особенность

Эти файлы cookie позволяют веб-сайту обеспечивать расширенную функциональность и персонализацию. Они могут быть установлены нами или сторонними поставщиками, чьи услуги мы добавили на наши страницы. Если вы не разрешите использование этих файлов cookie, некоторые или все эти службы могут работать некорректно.

рекламировать

Эти файлы cookie помогают нам понять, что вас интересует, чтобы мы могли показывать вам релевантную рекламу на других веб-сайтах. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем показывать вам персонализированную рекламу.