Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Что такое ступенчатый измеритель? Что можно измерять в солнечной фотоэлектрической отрасли?
Ступенчатый измеритель — это высокоточный прибор, специально предназначенный для измерения разности уровней и толщины поверхностей. Его основные области применения в солнечной энергетике могут включать…
27
2023
/
11
Принцип работы и области применения профилометра поверхностей
Поверхностный профилометр в основном состоит из трёх ключевых узлов: системы пневмоподвески рабочего стола, системы прецизионного измерительного зонда и системы сбора и анализа сигналов.
Компания «ZEPTOOLS» отмечает своё 7‑летие, с помощью технологических достижений вписывая новую главу в историю отечественных измерительных приборов.
С момента начала промышленного внедрения 21 ноября 2016 года в городе Тунлинь провинции Аньхой компания «ZEPTOOLS» неизменно сосредоточена на разработке и производстве сканирующих электронных микроскопов, став одним из немногих отечественных предприятий, способных осуществлять обратный трансфер научно‑исследовательского оборудования. Придерживаясь принципа, согласно которому инновации в сфере технологий определяют развитие, компания движется вперёд, руководствуясь техническим прогрессом, а также укрепляя сплочённость и лояльность сотрудников, уделяя особое внимание человеческому фактору. За семь лет кропотливого труда ей удалось решить ряд ключевых технических задач и добиться выдающихся результатов в своей отрасли.
При измерении толщины тонкой плёнки с помощью ступенчатого прибора, каким образом формируется ступенька?
Ступенчатый прибор в основном используется для точного измерения толщины тонких плёнок и покрытий. В процессе измерения ступень может формироваться следующими способами:
24
Зачем в сканирующем электронном микроскопе создают вакуум?
Сканирующий электронный микроскоп требует вакуумирования по следующим основным причинам:
Как подготовить образцы для анализа на сканирующем электронном микроскопе?
При проведении сканирующей электронной микроскопии подготовка и обработка образца играют крайне важную роль; она включает, в основном, следующие этапы.