Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Применение настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM18 в полупроводниковой отрасли
Растровый электронный микроскоп ZEM18 компании «ZEPTOOLS» обеспечивает высокое разрешение при наблюдении морфологии поверхности, элементном анализе и исследовании кристаллической структуры, что делает его подходящим для характеристики и анализа полупроводниковых материалов. Наш РЭМ помогает клиентам осуществлять оперативный контроль структуры устройств и проводить профильный анализ, повышая качество производства и стабильность эксплуатационных характеристик полупроводниковых приборов. Кроме того, мы предлагаем комплексные решения, охватывающие подготовку образцов, проведение испытаний и анализ данных, обеспечивая клиентов более всесторонним сервисом и поддержкой.
17
2023
/
11
Как анализировать изображения, полученные на настольном сканирующем электронном микроскопе?
Вы можете использовать растровый электронный микроскоп (РЭМ) для анализа изображений. РЭМ — эффективный инструмент физико‑химического анализа, позволяющий проводить наблюдение за различными типами изображений, элементный анализ, анализ кристаллической структуры, а также визуализацию и анализ трёхмерной морфологии. РЭМ предоставляет пользователю два режима: детектирование вторичных электронов (SE) и детектирование обратнорассеянных электронов (BSE).
16
Какие факторы влияют на разрешение сканирующего электронного микроскопа?
На разрешение сканирующего электронного микроскопа влияют следующие факторы:
Как возникают артефакты на изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа?
Артефакты на изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, — это нереальные или искажённые признаки, возникающие в процессе формирования изображения; они могут затруднять правильную интерпретацию и анализ образца.
15
Каковы преимущества ступенчатого измерителя компании «ZEPTOOLS»?
Ступенчатый прибор компании «ZEPTOOLS» обладает следующими преимуществами:
Каковы преимущества настольного сканирующего электронного микроскопа?
Настольный сканирующий электронный микроскоп (настольный СЭМ) по сравнению с традиционными крупногабаритными (напольными) сканирующими электронными микроскопами обладает следующими преимуществами:
14