Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Различия между сканирующим и трансмиссионным электронными микроскопами
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) и просвечивающий электронный микроскоп (TEM) оба используют пучок электронов для исследования микроструктуры образцов, однако их принципы работы и области применения различаются.
14
2023
/
11
Как в сканирующей электронной микроскопии уменьшить или скорректировать эффект зарядки поверхности образца?
В изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (SEM), эффект зарядки поверхности образца может приводить к искажению изображения и появлению шумов.
13
Как в изображениях сканирующего электронного микроскопа распознавать и интерпретировать поверхностные дефекты и особенности образца?
На изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), выявление и интерпретация поверхностных дефектов и особенностей образца требуют определённого опыта и навыков.
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 в сочетании с системой энергодисперсионного анализа EDS способствует выявлению примесей в лекарственных препаратах.
Сканирующий электронный микроскоп ZEM20, разработанный компанией ZEPTOOLS, может быть интегрирован с высокочувствительной системой энергодисперсионного анализа EDS. Он обладает возможностью быстрого сканирования больших площадей образцов и точного позиционирования; в локальных областях образца можно выполнять высокоувеличительное, непрерывное, послойное сканирование элементов, что позволяет быстро локализовать и точно определить микропримеси и следовые загрязнители в лекарственных препаратах.
10
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 способствует анализу морфологии и качества поверхности лекарственных препаратов
По мере роста осознания важности здоровья среди населения требования к качеству лекарственных препаратов неуклонно повышаются. Микроскопическая морфология поверхности частиц лекарственного средства непосредственно влияет на такие ключевые показатели, как скорость высвобождения в организме, физико‑химическая стабильность и биодоступность. Поэтому глубокий анализ микроструктуры поверхности лекарственных препаратов имеет огромное значение для повышения их качества и терапевтической эффективности. Однако традиционные оптические микроскопы из‑за ограниченной разрешающей способности не способны отображать микронные и субмикронные детали поверхности частиц. Сканирующий электронный микроскоп ZEM20, разработанный компанией ZeYou Technology, позволяет не только проводить высокоразрешающую морфологическую характеристику, но и, в сочетании с системой энергодисперсионного анализа и программным обеспечением для анализа размера частиц, осуществлять углублённый анализ химического состава образцов лекарственных средств и распределения их по размерам, что делает его превосходным решением для контроля качества лекарственных препаратов.
Какие образцы можно наблюдать с помощью сканирующего электронного микроскопа?
С помощью сканирующего электронного микроскопа (SEM) можно исследовать самые разные образцы, включая, но не ограничиваясь следующим:
09