Популярные приложения

Научные исследования

Научные исследования


Разработанные компанией ZEPTOOLS сканирующие электронные микроскопы и системы измерений in situ позволили получить многочисленные значимые результаты в рамках передовых научных проектов.

Решение


Публикация в журнале Nature | Применение технологии in situ‑TEM компании Zeyou Technology в сверхрешётках неван‑дер‑ваальсовых карбидов и углеродных нитридов

В условиях обострения глобальной технологической конкуренции и стремительной эволюции индустрии информационных технологий высокопроизводительные электронные материалы превратились в ключевую сферу стратегической национальной конкуренции. Существующие электронные материалы сталкиваются с серьёзными техническими ограничениями: традиционные сверхрешётки, основанные на ван-дер-ваальсовых взаимодействиях, из‑за слабой межфазной связи не способны удовлетворить насущные требования передовых областей — таких как связь 5G/6G, искусственный интеллект и квантовые вычисления — по чрезвычайно высокой эффективности электромагнитного экранирования и предельной электропроводности. В Китае в сфере высокотехнологичных электронных материалов по‑прежнему сохраняется проблема «узких мест», особенно в части базовых материалов для передовой полупроводниковой отрасли, где уровень внешней зависимости остаётся крайне высоким, что ставит под угрозу безопасность производственно‑технологической цепочки.

【Характеризация морфологии и состава полупроводников】Применение настольного сканирующего электронного микроскопа в диагностике световозвращающих плёнок для жидкокристаллических дисплеев

Жидкокристаллический дисплей (Liquid Crystal Display, LCD) — один из наиболее широко используемых в современном обществе типов дисплеев, повсеместно встречающийся в повседневной жизни. LCD в основном состоит из трёх основных компонентов: подложки с цветными фильтрами (Color filter, CF), подложки с TFT‑матрицей (TFT Array) и модуля подсветки (Back light unit).

【Электрические испытания полупроводников】Пробирный стол для работы в области температур сухого жидкого гелия

Сухой зондовый стол в диапазоне температур жидкого гелия специально разработан для неразрушающего исследования образцов и поддержания вакуумной чистоты; он обладает высокой гибкостью в проведении измерений и широко применяется при испытаниях постоянного тока (DC), радиочастотных сигналов (RF), MEMS, наноэлектроники, сверхпроводимости, оптоэлектрических свойств наносхем, квантовых точек и квантовых проводников, а также в рамках неразрушающих методов тестирования.

【Электрические испытания полупроводников】Нанозондовый стол для СЭМ

Данное устройство обеспечивает точное позиционирование в трёхмерном пространстве; оно обладает высоким разрешением, компактными габаритами, большим ходом, простотой эксплуатации и возможностью работы в вакууме, что позволяет использовать его для выполнения различных операций с наноразрешением внутри вакуумной камеры СЭМ.

Сканирующая электронная микроскопия PicoFemto, система наноизмерений силы SEM

Наноизмерение силы PicoFemto NI‑100 SEM интегрирует наноиндентор в сканирующий электронный микроскоп, позволяя пользователям проводить исследования наноиндентации in situ прямо в СЭМ. Система состоит из трёхмерного пьезоэлектрического столика для образца и зонда для измерения наносил. Установка образца обеспечивает гибкость и разнообразие вариантов; под управлением трёхмерного нанопозиционера достигается точное позиционирование с перемещением более 5 мм и разрешением позиционирования лучше 100 нм, что позволяет точно ориентировать исследуемую область относительно силового зонда.
< 1234...29 > Перейти на стр.