Новости и информация

JACS | In-situ ПЭМ и крио-столик FIB от ZEPTOOLS помогли методу 3D ED-MEM раскрыть структурный беспорядок в субмикронных кристаллах

Структурный беспорядок играет ключевую роль в регулировании свойств функциональных материалов, таких как термоэлектрики и ионные проводники, однако его детальная характеризация на протяжении долгого времени сталкивалась с серьёзными трудностями. Традиционные методы рентгеновской и нейтронной дифракции сильно зависят от высококачественных крупных монокристаллов или высокочистых порошков, что затрудняет их непосредственное применение к микро- и наноразмерным или многофазным смешанным материалам. Появление метода трёхмерной электронной дифракции (3D ED)打破了 это ограничение. Благодаря сильному рассеянию на субмикронных монокристаллах, он позволяет с высокой точностью определять среднюю структуру микрокристаллов, открывая новые горизонты для анализа микроструктуры.

31

2026

/

07

Nature Communications | Механизм анизотропного резистивного переключения в двумерном Bi₂O₂Se, раскрытый с помощью in-situ ПЭМ от ZEPTOOLS

В пост-муровскую эпоху традиционные кремниевые полупроводники постепенно приближаются к физическому пределу масштабирования, и поиск высокоскоростных, маломощных электронных устройств нового поколения стал ядром передовых исследований. Двумерные полупроводники благодаря своей атомарной толщине и выдающейся способности электростатического контроля открывают новые пути для наноэлектроники и нейроморфных систем. Среди них оксиселенид висмута (Bi₂O₂Se) сочетает высокую подвижность носителей и отличную экологическую стабильность. Его кристалл образован чередующимися слоями положительно заряженных слоёв Bi₂O₂ и отрицательно заряженных слоёв Se. Такая уникальная слоистая анизотропная структура обуславливает кардинально различные электронные транспортные и резистивно-переключающие свойства в плоскости и по нормали, что открывает широкие перспективы для применения в нейроморфных вычислениях и высокоплотных запоминающих устройствах.

22

2026

/

07

Matter | Криогенная зондовая станция с жидким азотом ZEPTOOLS помогает исследовательской группе преодолеть барьер субнанометровых электрических измерений

Атомно-тонкие аморфные материалы освобождаются от ограничений кристаллической решеточной симметрии, сочетая двумерные геометрические особенности со структурной неупорядоченностью, демонстрируя высокую дефектоустойчивость и непрерывно регулируемые физико-химические свойства. В отличие от двумерных кристаллов, сложенных за счет сил Ван-дер-Ваальса, аморфные пленки не имеют границ зерен и ван-дер-ваальсовых зазоров, что позволяет формировать монолитные пленки с атомарной гладкостью и структурной однородностью, открывающими огромные перспективы применения в областях интегральных схем следующего поколения, электронной пропускания и металлических диффузионных барьерных слоев. В настоящее время в академических кругах уже заложена начальная основа в синтезе и исследовании свойств таких систем, как однослойный аморфный углерод и сверхтонкие оксиды.

14

2026

/

07

JACS | Система FIB с криопереносом от ZEPTOOLS обеспечивает неразрушающий анализ литий-совместимых границ раздела в твердых электролитах

Полностью твердотельные литиевые батареи благодаря сочетанию высокой безопасности и высокой плотности энергии стали важным направлением для технологий хранения энергии следующего поколения, а поиск высокосовместимых неорганических твердых электролитов является ключом к реализации этой технологии. В настоящее время немногочисленные традиционные электролиты, обладающие литиевой совместимостью, в целом ограничены риском теплового разгона, низкой ионной проводимостью или чрезмерно высокой стоимостью сырья, что не позволяет им удовлетворять множеству практических требований. В отличие от них, циркониевые оксихлоридные твердые электролиты благодаря отличной ионной проводимости, низкой плотности, хорошей совместимости с катодом и выдающимся стоимостным преимуществам рассматриваются как весьма перспективные кандидаты для коммерциализации.

07

2026

/

07

Nature Communications | ZEPTOOLS In-situ SEM раскрывает механизм динамического разрушения сверхвысокопрочной стали класса 3 ГПа

Сталь, являющаяся краеугольным камнем современной цивилизации и промышленности, играет критическую роль в эволюции характеристик компонентов, работающих в экстремальных условиях нагружения, при этом предел текучести стал ключевым проектным параметром, определяющим безопасность эксплуатации. После почти столетия развития предел текучести сверхвысокопрочных аэрокосмических сплавов достиг примерно 2 ГПа. Однако развитие передовых технологий следующего поколения, таких как трансмиссионные валы для аппаратов глубокого космоса, требует значительного скачка к сверхвысокому пределу текучести в 3 ГПа. Это требует, чтобы материалы при достижении сверхвысокой прочности ни в коем случае не жертвовали ключевыми показателями повреждённости, такими как общее относительное удлинение, относительное сужение и сопротивление усталости.

01

2026

/

07

Advanced Functional Materials | In situ TEM ZEPTOOLS помогает в реальном времени электрически мониторить пластическую деформацию вольфрамовых нанопроволок

По мере дальнейшей миниатюризации микронаноэлектромеханических систем и передовых межсоединительных устройств структурная стабильность и функциональная надёжность металлических наноматериалов в экстремальных условиях сталкиваются со всё более жёсткими требованиями. В таких микронаноустройствах напряжения, испытываемые материалом, легко превышают предел текучести, что вызывает необратимую пластическую деформацию. Даже крайне малая пластическая деформация может спровоцировать зарождение и распространение усталостных трещин, что в конечном итоге приводит к катастрофическому отказу устройства. Таким образом, раннее выявление и точная оценка пластической деформации на микронаномасштабе имеют критическое значение для прогнозирования отказов материалов и обеспечения безопасности работы систем. Хотя изменение электрического сопротивления как неразрушающий и чувствительный параметр уже широко используется для мониторинга повреждений конструкций на макроуровне, его применение в области микронаноустройств по-прежнему сопряжено с серьёзными трудностями.

23

2026

/

06