Популярные приложения
Научные исследования
Разработанные компанией ZEPTOOLS сканирующие электронные микроскопы и системы измерений in situ позволили получить многочисленные значимые результаты в рамках передовых научных проектов.
Решение
В последние годы, благодаря развитию технологии крио‑электронной микроскопии, стало возможным изучать микроструктуру образцов фруктов с помощью низкотемпературной заморозки. В частности, разработанный компанией Zeyou Technology новейший холодильный стол TEC представляет собой специализированное оборудование для подготовки образцов к электронной микроскопии; он регулирует температуру и влажность, снижая их уровень и тем самым уменьшая влияние влаги и поддерживая образцы в стабильно низкотемпературном состоянии. Появление такого холодильного стола обеспечивает более удобное и эффективное решение для электронно‑микроскопического исследования фруктов.
Ступенчатый прибор используется для характеристики толщины полупроводниковых материалов.
Отечественный настольный сканирующий электронный микроскоп — это компактное устройство, которое можно разместить прямо на рабочем столе и использовать непосредственно в лаборатории. Так насколько же мал может быть настоящий электронный микроскоп? Ответ, возможно, превзойдёт ваши ожидания.
Примеры применения установки для непосредственного растяжения в режиме СЭМ
Стенд для испытаний на растяжение в неразрушающем режиме позволяет определять механические свойства материалов путём приложения внешней нагрузки и измерения величины деформации. Как правило, он состоит из разрывной машины, зажимных приспособлений, датчиков и системы сбора данных. В ходе эксперимента образец материала сначала фиксируется в зажимных устройствах, после чего разрывная машина создаёт внешнее усилие, вызывая растяжительную деформацию образца.
Сканирующий электронный микроскоп ZEM18, разработанный компанией ZEPTOOLS, благодаря своей способности формировать изображения с наноразрешением позволяет чётко визуализировать микроструктуру поверхности режущего инструмента и наглядно оценивать степень его износа в процессе эксплуатации. По сравнению с оптическими микроскопами сканирующий электронный микроскоп обеспечивает значительно большее увеличение, позволяя выявлять мельчайшие изменения в области режущей кромки на уровне миллиметров и даже субмиллиметровых масштабов, а также оценивать степень износа инструмента.
Слоистый высоко никелевый трикомпонентный катод NCM является широко используемым в электромобилях коммерческим материалом для катодов литий‑ионных аккумуляторов с высокой емкостью. Однако структурное ухудшение, возникающее в процессе циклирования, приводит к необратимому снижению емкости; при этом основными проявлениями этого ухудшения являются межслойное скольжение (planar gliding) и микротрещины внутри кристаллов, возникающие при высоких напряжениях.
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15