Популярные приложения
Научные исследования
Разработанные компанией ZEPTOOLS сканирующие электронные микроскопы и системы измерений in situ позволили получить многочисленные значимые результаты в рамках передовых научных проектов.
Решение
По мере стремительного развития полупроводниковой отрасли Китая возрастают требования к характеристике и контролю качества микроструктур кремниевых пластин и чипов. Сканирующий электронный микроскоп ZEM20, разработанный компанией «ZEPTOOLS», благодаря своему выдающемуся разрешению изображения и широкому спектру режимов регистрации сигналов стал идеальным инструментом для анализа микрорельефа и выявления дефектов в полупроводниковой промышленности.
В предыдущем материале «Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 — инструмент для анализа морфологии и качества поверхности лекарственных препаратов» мы с помощью этого прибора провели характеризацию лекарственных средств; однако в процессе их производства возможно попадание различных посторонних примесей, и если такие неизвестные загрязнения окажутся в готовом препарате, это может создать угрозу безопасности применения лекарства пациентами.
По мере роста уровня осведомлённости населения о здоровье требования к качеству лекарственных препаратов неуклонно повышаются. Микроскопическая морфология поверхности частиц лекарственного средства непосредственно влияет на такие ключевые показатели, как скорость высвобождения в организме, физико‑химическая стабильность и биодоступность. Поэтому глубокий анализ микроструктуры поверхности лекарственных препаратов имеет огромное значение для повышения их качества и терапевтической эффективности.
Отечественный настольный сканирующий электронный микроскоп — это компактное устройство, которое можно разместить прямо на рабочем столе и использовать непосредственно в лаборатории. Так насколько же мал может быть настоящий электронный микроскоп? Ответ, возможно, превзойдёт ваши ожидания.
Сканирующий электронный микроскоп ZEM18, разработанный компанией ZEPTOOLS, благодаря своей способности формировать изображения с наноразрешением позволяет чётко визуализировать микроструктуру поверхности режущего инструмента и наглядно оценивать степень его износа в процессе эксплуатации. По сравнению с оптическими микроскопами сканирующий электронный микроскоп обеспечивает значительно большее увеличение, позволяя выявлять мельчайшие изменения в области режущей кромки на уровне миллиметров и даже субмиллиметровых масштабов, а также оценивать степень износа инструмента.
Слоистый высоко никелевый трикомпонентный катод NCM является широко используемым в электромобилях коммерческим материалом для катодов литий‑ионных аккумуляторов с высокой емкостью. Однако структурное ухудшение, возникающее в процессе циклирования, приводит к необратимому снижению емкости; при этом основными проявлениями этого ухудшения являются межслойное скольжение (planar gliding) и микротрещины внутри кристаллов, возникающие при высоких напряжениях.
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15